样机测试问题排查 · 目录索引
编制日期 2026-09-21 ｜ 版本号 Rev 1.0
XTX（芯天下）SD NAND / SPI NOR / SPI NAND / PPI NAND / eMMC ｜ 调试&解决方案 → 样机测试 ｜ P0 / P1 / P2 三级 22 篇 ｜ 2026-09 版
这份索引的边界
样机目录只回答「这一块板子为什么带不起来」：第一次上电、手焊、飞线、转接板、驱动首配、温压拉偏、试产门禁。产线良率与治具穴位的问题请去 ../量产问题排查/，两边同主题互链，不复制粘贴整篇。
10
P0 高频工单
完整版：机制 + 决策树 + 速查表 + 核查清单
8
P1 平台与专题
海思 / 全志 / 瑞芯微 + QE、4B、温偏、UID、抓包
4
P2 模板与索引
记录模板、探点 SOP、试产门禁、报错码索引
74
并列量产篇
../量产问题排查/ 目录，主题可互链对照
一句话结论
现场先按现象路由表（第 4 章）挑一篇 P0 进，不要在十篇里横向通读；已知主控平台再补 P1，收尾走 P2 的门禁检查表转量产。
1. 边界：样机与量产的分工
两个目录处理的是同一个器件的两个不同阶段，混着看会把「设计问题」误判成「制造问题」，或者反过来把飞线的假故障当成批次缺陷。
| 维度 | 样机测试（本目录） | 量产问题排查（并列目录） |
|---|---|---|
| 典型场景 | 第一次上电、手焊样机、飞线与转接板、驱动首配、温压拉偏 | 产线治具、批量烧录、炉温与贴片、批次一致性、产测良率 |
| 问的问题 | 这块板子为什么带不起来 | 这条线为什么下不来良率 |
| 主要工具 | 万用表、示波器、逻辑分析仪、串口 LOG | 烧录器、治具、参数卡、产测程序、SPC |
| 故障性质 | 多为确定性问题：接线、时序、配置、电平 | 多为分布性问题：长尾、批次、工装磨损、环境 |
| 结案标准 | 复现条件明确 + 根因可解释 + 交叉验证通过 | 良率达标 + 参数卡锁版 + 变更有门禁 |
| 互链方式 | P0 篇末尾指向对应量产篇 | 量产篇回指样机定位方法 |
目录不是孤岛
同主题在两边各有一篇是故意的：样机篇教你怎么把根因找出来，量产篇教你怎么把根因挡在产线外。改任一篇时记得同步另一篇的互链段落。
2. P0 · 十篇完整版
覆盖样机阶段最高频的十类工单，每篇含机制解读、决策树图、故障现象速查表与核查清单，单篇 45～80 KB，可直接现场打开翻查。
| # | 文档 | 典型现象 | 本篇的核心抓手 | 链接 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 上电不识别 / ID 读不到 | 读不到 ID：全 FF / 全 00 / 无响应 | 供电 → 接触 → 波形 → 交叉换料四步分流 | 打开 → |
| 2 | 能读 ID 但读写失败 | ID 读得到，Read / Program / Erase 挂 | 读 ID 只验证最低限度，读写对模式 / QE / dummy / ECC 要求高得多 | 打开 → |
| 3 | 波形时序异常（CS/CLK/DI/DO） | 示波器看到毛刺、振铃、浮空、相位错 | 异常波形形态 → 根因 → 处置，附探点与接地规范 | 打开 → |
| 4 | SPI NOR 首次启动失败 | 烧录器读正常，主控起不来 | 按 LOG 停点分段：BootROM 取指 / 读数据 / 数据完整性 | 打开 → |
| 5 | SPI NAND 首次启动失败 | NAND 能烧能读但不开机 | 坏块、ECC、页块对齐、BOOT 区读取策略差异 | 打开 → |
| 6 | eMMC / SD 首次枚举失败 | CMD1 / ACMD41 无响应、枚举超时 | 枚举命令链分段定位，DAT0 上拉与 VCCQ 是高频根因 | 打开 → |
| 7 | 主控驱动不匹配 / 参数页对齐 | 换料换批次后驱动不认或行为异常 | SFDP / ONFI / EXT_CSD 回读比对 → 改驱动表与设备树 | 打开 → |
| 8 | 飞线与转接板引入故障 | 样机阶段最多的「假故障」 | 线长、地回路、接触电阻、串扰的定量纪律 | 打开 → |
| 9 | 电压域与 IO 电平不匹配 | 1.8V 与 3.3V 混接 | VCC / VCCQ 分离供电与 VIH / 绝对最大值的判定表 | 打开 → |
| 10 | 样机通过、量产失败（差异对照） | 样机 OK，上量就挂 | 八个差异维度逐项对照 + 四道放行门禁 | 打开 → |
3. P1 / P2 · 平台与规范篇
P1 是已知主控平台后的补充专题，P2 是记录与规范类工具页。这两级目前是精简版（单页要点速查），按需升级为完整版。
3.1 P1 · 平台与专题（8 篇）
| 文档（点击打开） | 要点 | 状态 |
|---|---|---|
| 海思平台联调 | 海思 SDK 下 SPI NAND 的 bring-up 要点 | 精简版 |
| 全志平台联调 | 全志平台 SPI NAND / NOR 双介质联调 | 精简版 |
| 瑞芯微平台联调 | 瑞芯微平台 SPI NAND 与 eMMC 联调 | 精简版 |
| Quad / QE 位 | QE 位未开导致的 Quad 读失败与确认方法 | 精简版 |
| 4 字节地址 | 大容量器件 3B / 4B 地址模式切换的坑 | 精简版 |
| 高低温启动边界 | 温偏下的启动失败与拉偏验证方法 | 精简版 |
| UID 加密联调 | 密钥位与锁定顺序，改错不可逆 | 精简版 |
| 逻辑分析仪抓包 | LA 抓包与命令时序对照方法 | 精简版 |
3.2 P2 · 模板与索引（4 篇）
| 文档（点击打开） | 要点 | 状态 |
|---|---|---|
| 调试记录模板 | 现场记录与结案栏，保证可复现可交接 | 精简版 |
| 探点与抓取规范 | 接地弹簧、探点选择、抓取设置 SOP | 精简版 |
| 试产门禁检查表 | 样机放行试产前的逐项门禁 | 精简版 |
| 报错码索引 | 主控 LOG 关键字 → 可能根因 → 对应文档 | 精简版 |
3.3 相关工具篇
| 文档（点击打开） | 要点 | 状态 |
|---|---|---|
| ISE / iMPACT 固化烧录 | Xilinx 平台非白名单器件的绕行烧录与降档映射 | 完整版 |
| 烧录器找不到型号 | 编程器型号库缺失时的替代选型与降档烧录总表 | 完整版 |
精简版的使用方式
P1 / P2 目前放在 Cursor/ 子目录，是要点速查式单页，适合现场快速扫一眼；需要展开成完整版（决策树 + 速查表 + 核查清单）时，按 P0 的规格重写并提到本目录根，同时更新本索引。
4. 现象 → 该翻哪篇
现场时间有限，先按最先看到的现象进对应的那一篇；如果现象落在两篇交界，先走排在前面的（更靠硬件侧）。